在測壓敏電阻漏流時，顯示漏流值為什么漸漸上升至穩定，短時間內測同一個元器件，測出的數據為什么不一致？

 被測壓敏電阻在測試時，由于元器件內部溫度影響，測漏流時，大電流的沖擊，壓敏電阻內部溫度變化比較大，漏電流隨著溫度的變化而變化，zui后趨于穩定。氣體放電管內部由于是隋性氣體組成。在電流的沖擊下，短時間內難以恢復原來狀態必須經過一段時間恢復，才能獲得準確結果，保證重復測試精度。


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